X-123 SDD X線スペクトロメータ
分解能：125～140eV（@5.9keV,ピーキングタイムと温度に依存） 検出器サイズ：25mm2 検出器厚さ：500μm Be厚さ：12.5μm、8μm PB比：20,000:1 コリメータ：マルチレイヤーコリメータ プリアンプ：チャージセンシティブ ゲインスタビリティ：<20ppm/℃（代表値） 冷却方式：電子冷却 動作温度：－30～+80℃ 出力プリアンプ感度：0.8mV/keV （代表値）
| 商品ID | 873 |
|---|---|
| 型番 | X-123SDD |
| 品名 | X-123 SDD X線スペクトロメータ |
| カテゴリ | |
| 検出器 | SDD (Silicon Drift Detector) |
| メーカー名 | 米国AMPTEK社(AMETEKグループ） |
| 納入期間 | 別途問合 |
| 金額 | 別途見積 |